3月20日，受国家科学技术部国际合作司委托，省科学技术厅组织专家在我校召开了由苏俊宏教授承担的国际科技合作项目“激光薄膜厚度的高精度全场测试技术研究”项目验收会。

会议由省科学技术厅国际合作处副处长黄云良主持，科技处周黎萍副处长参加了本次验收会。验收专家组由国家国际科技合作项目专家库中7名同行专家组成，陕西科技大学董继先教授任组长，其他6名专家分别是同济大学王占山教授、北京理工大学金伟其教授、西安交通大学张彦鹏教授、西北工业大学樊慧庆教授、中国科学院西安光学精密机械研究所汶德胜研究员、中国科学院成都光电技术研究所廖胜研究员。该项目于2010年由国家科学技术部国际合作司批准立项，项目总经费246万元，其中国家国际合作专项拨款176万元。
  会上，专家组审阅了项目有关材料、听取了项目组的汇报，经质询和充分讨论，认为该项目通过引进国际先进的理论和技术，研究了多种介质和DLC等激光薄膜的制备，通过电场强度优化、预处理等多种方式提高了薄膜的激光损伤阈值；开展了条纹法、快速傅立叶变换法等5种薄膜厚度测试方法研究，并成功研制出薄膜厚度测试原来样机。该项目与合作外方建立了广泛、稳定、长效、双赢的合作机制，形成了良好的国际合作与交流环境，为我校“光学先进制造与光电检测”示范性国际科技合作基地的获得奠定了基础。项目全面完成了任务合同书规定的研究内容和任务，达到了预期的目标，获得了专家组高度好评。

                                                                  图：葛锦蔓    文：王亚健/杨利红