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用于测试半导体薄膜塞贝克系数的基片及制备和测试方法
2023-12-01   审核人:   (阅读)

根据《中华人民共和国促进科技成果转化法》、《实施<中华人民共和国促进科技成果转化法>若干规定》(国发〔201616号)、《中华人民共和国财政部令第100号(事业单位国有资产管理暂行办法)》及《关于印发西安工业大学科技成果转移转化相关管理办法的通知》(校技〔2019176号)等学校相关文件规定,现对一项发明专利所有权转让情况予以公示:
 
 
专利名称:用于测试半导体薄膜塞贝克系数的基片及制备和测试方法

发明人:张进 刘卫国 惠迎雪 周顺 陈智利 秦文罡

    专利号:ZL 201710521188.8

    专利申请日:20170630

    授权公告日:20200313

    专利权人:西安工业大学

    转让单位:四川攀盈达科技有限公司

    转让价格:人民币壹万捌仟元整(¥18000.00元)

    定价方式:协议定价

    利益关联性:无

    公示期自2023121日至20231215日。公示期内,任何单位和个人若对上述专利转让有异议,可以书面或者电子邮件形式反映给科学技术研究院成果与技术转移中心(地址:未央校区双创楼105室)。异议应当签署真实姓名或加盖单位公章,并注明联系方式,逾期不予受理。

     联系人:李高宏
    
电 话: 029-86173055e-mail
943313965@qq.com

                                                                       科学技术研究院

                                                                        2023121

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